电脑主板检测诊断卡代码大全对照表详细介绍(电脑检测卡代码对照表？)

主板故障诊断卡是计算机维修人员经常使用的工具，也有一些骨灰级玩家会使用该工具测试计算机硬件，而主板故障诊断卡显示的代码是维修人员确定故障来源的途径，用户若是需要准确判断指示灯显示的代码，下面来看看电脑主板检测卡代码详解。

C0 开机检测代码显示C0，这为主板BIOS故障或者主板芯片已坏。

C1 C1本为检测是否内存通过，停止即为不过，但是主板也有故障嫌疑的。

C3 内存问题D3、D4：此都为内存问题，但是主板内存插槽也有可能，多数出在AMD的板上，这时可以把CPU风扇拿出来，上紧CPU再进行通电测试。

25为显卡或插槽问题，一般清过主板BIOS就能亮机，不然就换过显卡。

26或者2b 亮机，不亮机考虑显卡。

31 显卡或插槽问题。

45 显卡问题。

00 刚开机就直接到00或者FF是CPU或者主板芯片坏。

FF 刚开机就直接到00或者FF是CPU或者主板芯片坏，也可能是供电不足。

13 在AMI BIOS13是正常。

75 BIOS故障，重设BIOS即可。

00 开机代码转到最后显示为这个为正常已经亮机。

FF 开机代码转到最后显示为这个为正常已经亮机。

05 如果不断重复制造测试1至5，可获得8042控制状态。已确定软复位/通电;即将启动ROM。DMA初如准备正在进行或者失灵。

06 使电路片作初始准备，停用视频、奇偶性、DMA电路片，以及清除DMA电路片，所有页面寄存器和CMOS停机字节。 已启动ROM计算ROM BIOS检查总和，以及检查键盘缓冲器是否清除。DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。

07 处理器测试2，核实CPU寄存器的工作。ROM BIOS检查总和正常，键盘缓冲器已清除，向键盘发出BAT（基本保证测试）命令。

08 使CMOS计时器作初始准备，正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令，即将写入BAT命令。 RAM更新检验正在进行或失灵。

09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试，接着核实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。

0A 使视频接口作初始准备。发出键盘命令字节代码，即将写入命令字节数据。第一个64K RAM芯片或数据线失灵，移位。

0B 测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节，即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。 第一个64K RAM奇/偶逻辑失灵。

0C 测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发出NOP命令。 第一个64K RAN的地址线故障。

0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、视频通道测试，如果失败，则鸣喇叭。 已处理NOP命令;接着测试CMOS停开寄存器。 第一个64K RAM的奇偶性失灵

0E 测试CMOS停机字节。 CMOS停开寄存器读/写测试;将计算CMOS检查总和。 初始化输入/输出端口地址。

0F 测试扩展的CMOS。 已计算CMOS检查总和写入诊断字节;CMOS开始初始准备。 。

10 测试DMA通道0。 CMOS已作初始准备，CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。 第一个64K RAM第0位故障。

11 测试DMA通道1。 CMOS状态寄存器已作初始准备，即将停用DMA和中断控制器。 第一个64DK RAM第1位故障。

12 测试DMA页面寄存器。 停用DMA控制器1以及中断控制器1和2;即将视频显示器并使端口B作初始准备。 第一个64DK RAM第2位故障。

13 测试8741键盘控制器接口。 视频显示器已停用，端口B已作初始准备;即将开始电路片初始化/存储器自动检测。 第一个64DK RAM第3位故障。

14 测试存储器更新触发电路。 电路片初始化/存储器处自动检测结束;8254计时器测试即将开始。 第一个64DK RAM第4位故障。

15 测试开头64K的系统存储器。 第2通道计时器测试了一半;8254第2通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第5位故障。

16 建立8259所用的中断矢量表。 第2通道计时器测试结束;8254第1通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第6位故障。

17 调准视频输入/输出工作，若装有视频BIOS则启用。 第1通道计时器测试结束;8254第0通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第7位故障。

18 测试视频存储器，如果安装选用的视频BIOS通过，由可绕过。 第0通道计时器测试结束;即将开始更新存储器。 第一个64DK RAM第8位故障。

19 测试第1通道的中断控制器（8259）屏蔽位。 已开始更新存储器，接着将完成存储器的更新。 第一个64DK RAM第9位故障。

1A 测试第2通道的中断控制器（8259）屏蔽位。 正在触发存储器更新线路，即将检查15微秒通/断时间。 第一个64DK RAM第10位故障。

1B 测试CMOS电池电平。 完成存储器更新时间30微秒测试;即将开始基本的64K存储器测试。 第一个64DK RAM第11位故障。

1C 测试CMOS检查总和。第一个64DK RAM第12位故障。

1D 调定CMOS配置。第一个64DK RAM第13位故障。

1E 测定系统存储器的大小，并且把它和CMOS值比较。第一个64DK RAM第14位故障。

1F 测试64K存储器至最高640K。第一个64DK RAM第15位故障。

20 测量固定的8259中断位。 开始基本的64K存储器测试;即将测试地址线。 从属DMA寄存器测试正在进行或失灵。

21 维持不可屏蔽中断（NMI）位（奇偶性或输入/输出通道的检查）。 通过地址线测试;即将触发奇偶性。 主DMA寄存器测试正在进行或失灵。

22 测试8259的中断功能。 结束触发奇偶性;将开始串行数据读/写测试。 主中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。